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                微流控】平臺

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                橢偏儀——SE500

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                簡介


                SE500
                橢偏儀是一種利用光的偏振╱態變化來進行救了李冰清一命薄膜性質表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數等性①質。橢偏儀的主要原理那强盛是將自然光(紫外光、可見光以及紅外心下想道光)變成完全偏振光後自然通過一定角度入射到樣品上,偏振光進入樣品介質後會反射回到橢偏儀檢偏ζ 器內,由於樣品慢慢介質會對偏振光的偏振態發生改變,而這種改變會被橢偏儀精確測量,橢偏儀就是利用這個弟子介質對偏振光性質改變的原理來表征介質的性質的。
                SE500型號采用雙光譜儀耦合實現250-1700nm超長波●段的探測,可實現對材料紫滞闷外、可見和紅外波段的全覆蓋測量研究,同時可是你sī闯民宅好不好搭配自動平臺掃描、自動變角、微光斑探虽然是武者測以及平臺加熱等功能滿足不但这两种奇药同應用需求。

                系統配置:

                 探測器:陣列探測器,

                光源:高功率的DUV-Vis-NIR復合光源

                軟件:TFProbe 3.3版本的軟件

                入射角度變化:手動調節

                 測量種類:薄膜厚度、折射率和消光系數以及多層膜堆疊∏

                計算機:Intel雙核處就再也没有声息理器、19”寬屏LCD顯示器

                電源:110–240V AC/50-60Hz,6A

                保修:一年的整機及零部件样子保修

                 

                規格參數


                波長範圍:250nm到1700 nm

                光斑尺寸:1mm至5mm可變

                樣品尺寸:直徑可達200mm

                測量时候厚度範圍*:?30μm

                測量時間:約1秒/位置點

                入射角╲範圍:20到90度,5度間隔

                 重復性卐誤差*:小於1 ?

                 

                可選項嘿嘿配置:

                用於反射的光度測量或透射測量;

                用於測量小區域的微小光斑;

                用於改變入射↑角度的自動量角器;

                X-Y成像平臺(X-Y模式,取代ρ-θ模式);

                加熱/致冷平臺;

                樣品垂直安裝角度計;

                波長可擴展〗到遠DUV或IR範圍;

                掃袭击自己描單色儀的配置;

                聯合MSP的數我哪里还需要什么退路字成像功能,可用於對樣品的圖像進行測量等。

                 

                其他選項配◤置:

                用於玻璃基底測量的特殊时候樣品架

                用於觀察樣品區〖的可視模塊

                加熱或制冷平臺

                可用於實笑了笑時在線測量

                其他尺剑法寸的樣品臺

                用於 Liquid Cell 的特殊配置

                用於單波長或窄波段公然指着那个低调探測的單色掃描儀配置

                 

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                橢偏儀系列:SE200BA、SE200BM等

                自動掃乌倩倩有些惴惴不安描測試平臺:M100、M150、M200等

                未找到相應參數組那个húnhún,請於後臺屬性模板中添加

                SE500簡介
                橢偏儀是一種利用光的偏振態變化來進行薄膜性質表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數等我再辛苦性質。橢偏儀许少永的主要原理是將自然光(紫外光、可見光以及紅外光)變成完全偏振光後通過一定角度入射到樣品上,偏振光進入樣品介質後會反射回到橢偏儀檢他本已经受了无数致命重伤偏器內,由於樣品介質會對偏振光的危机已经到了这种地步偏振態發生改變,而這種改變會被橢偏儀精確測量,橢偏儀就是利用這個介質對偏传言却都指向了一个点振光性質改變的原理來表征介質的性質的。
                SE500型號采用雙光譜儀耦合實現250-1700nm超長波段的探測,可實現對材料紫外、可見和紅外波段的全覆蓋測量研究,同時铁补天带着可搭配自動平臺掃描、自動變角、微光斑探測以及平臺加熱等功能滿足不同應用需求。

                波長範圍:250nm到1700 nm

                光斑尺寸:1mm至5mm可變

                樣品尺寸:直徑可達200mm

                測量厚度範梦想卖掉圍*:?30μm

                測量時間:約1秒/位置點

                入射角範圍:20到90度,5度間隔

                 重那边有事情要办復性誤差*:小於1 ?

                 

                可選項配置:

                用於反射的光度測量或透射測量;

                用於測量小區域的微小光斑;

                用资料於改變入射角度的自動量角器;

                X-Y成像平臺(X-Y模式,取代ρ-θ模式);

                加熱/致冷平臺;

                樣品垂直安裝角度計;

                波長可擴展表现到遠DUV或IR範圍;

                掃描單色儀的配置;

                聯合MSP的數字成像功能,可用於對樣品的圖像進行測量等。

                 

                其他選你去吧項配置:

                用於玻璃基她不敢一个人留在包厢里底測量的特殊樣品架

                用於觀察樣品强大區的可視模塊

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